Formel-E-Test in Donington: Vergne mit neuem Rundenrekord

geteilte inhalte
kommentare
Formel-E-Test in Donington: Vergne mit neuem Rundenrekord
Jamie Klein
Autor: Jamie Klein
06.09.2016, 16:47

Wie schon am Montag, so markierte Jean-Eric Vergne auch am zweiten Tag der Formel-E-Testfahrten in Donington die Bestzeit für Techeetah. Diesmal war der Franzose aber noch schneller.

Jean-Eric Vergne, Techeetah
Sébastien Buemi, Renault e.Dams
Lucas di Grassi, ABT Schaeffler Audi Sport
Nicolas Prost, Renault e.Dams
Daniel Abt, ABT Schaeffler Audi Sport
Nach einem harmlosen Crash am Dienstagvormittag war Techeetach-Pilot Vergne am Nachmittag im Vergleich zu seiner Montags-Bestzeit (1:29,640 Minuten) fast eine halbe Sekunde schneller. Mit 1:29,196 Minuten ist Vergne damit auch Inhaber des neuen Formel-E-Rundenrekords in Donington.

Sebastien Buemi (Renault; 1:29,370), Lucas di Grassi (ABT; 1:29,518), Nicolas Prost (Renault; 1:29,722) und Daniel Abt (Abt; 1:30,039) machten die Top 5 komplett und deuteten damit an, welche Teams in der 9. Oktober in Hongkong beginnenden Formel-E-Saison 2016/2017 die Favoriten sein dürften.
 
Am Mittwoch gehen die Testfahrten in Donington zu Ende.
 
Nächster Formel E Artikel
Steht Bruno Senna vor dem Formel-E-Aus?

Vorheriger Artikel

Steht Bruno Senna vor dem Formel-E-Aus?

Nächster Artikel

Formel-E-Test in Donington: Buemi mit Rekordrunde zum Abschluss

Formel-E-Test in Donington: Buemi mit Rekordrunde zum Abschluss
Kommentare laden